Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok / Stefan Sękowski, Ryszard Szepke.

Katalog

Książki

Pobierz opis bibliograficzny

Autor/twórca: Sękowski, Stefan.
Tytuł: Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok / Stefan Sękowski, Ryszard Szepke.
Miejsce i data wydania: Warszawa : 1968.
Wydawca: Wydawnictwa Naukowo-Techniczne,
Opis fizyczny: 129 s. : rys., skor. ; 21 cm.
Klasyfikacja UKD:
- 539.16/18
- 62
- 61
- 550.835
- 614.898

000 @ 00791nam 2200265 4500
001 @ SGSPk0015106.01
005 @ 20170921100120.0
008 @ 170921s1968----pl -----------000-0-pol-d
040 a WWA SGSP c WWA SGSP/tk06 d WA SGSP/LM
041 0

a pol
080 a 539.16/18
080 a 62
080 a 61
080 a 550.835
080 a 614.898
100 1

a Sękowski, Stefan.
245 1
0
a Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok / c Stefan Sękowski, Ryszard Szepke.
260 a Warszawa : b Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, c 1968.
300 a 129 s. : b rys., skor. ; c 21 cm.
380 a Książki
504 a Bibliogr., tab.
700 1

a Szepke, Ryszard.
901 a 31658
951 a SOWA1/15106

Aby móc wypożyczać musisz mieć założoną kartę czytelnika

Opis