Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok / Stefan Sękowski, Ryszard Szepke.

Library catalog
Books
Download bibliographic description

Description

  • Autor: Sękowski, Stefan.
  • Title: Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok / Stefan Sękowski, Ryszard Szepke.
  • Place and date of publication: Warszawa : 1968.
  • Publisher: Wydawnictwa Naukowo-Techniczne,
  • Physical description: 129 s. : rys., skor. ; 21 cm.
  • UKD classification:
    • 539.16/18
    • 62
    • 61
    • 550.835
    • 614.898

MARC

  • 000 @ 00791nam 2200265 4500
  • 001 @ SGSPk0015106.01
  • 005 @ 20170921100120.0
  • 008 @ 170921s1968----pl -----------000-0-pol-d
  • 040 a WWA SGSP c WWA SGSP/tk06 d WA SGSP/LM
  • 041
    0
     
    a pol
  • 080 a 539.16/18
  • 080 a 62
  • 080 a 61
  • 080 a 550.835
  • 080 a 614.898
  • 100
    1
     
    a Sękowski, Stefan.
  • 245
    1
    0
    a Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok / c Stefan Sękowski, Ryszard Szepke.
  • 260 a Warszawa : b Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, c 1968.
  • 300 a 129 s. : b rys., skor. ; c 21 cm.
  • 380 a Książki
  • 504 a Bibliogr., tab.
  • 700
    1
     
    a Szepke, Ryszard.
  • 901 a 31658
  • 951 a SOWA1/15106

Dublin Core

Copies

  • Signature: I-463
  • Copy location: Wypożyczalnia

Files

9183b245vy1f7.jpg (58.9 KB)

  • Description: Załącznik nr 1 (JPG)
  • Licence: Repository License
  • Availability: Public